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我国科学家在磁性芯片高精度检测领域取得新突破

在庆祝中国共产党建党百年之际,北京航空航天大学科研工作者在5个原子层厚的纳米磁性薄膜上写下“100年,中国‘芯’”这几个字。这个厚度相当于一张普通打印纸的十万分之一。科研人员利用检测仪器,通过微小的磁性针尖在薄膜上写字,完成平整度检测后,将纳米薄膜制成器件,封装后形成芯片。该检测仪器是由北航集成电路学院科研团队研发的晶圆级磁光克尔测试仪。对比国外同类设备,这台仪器在测试精度和速度等方面进行了技术革新,实现了自主创新突破。据了解,该仪器现已应用于科研领域,且预计于今年10月在产业领域投入商用。(新华社)